安賽斯FF35 CT多用途高分辨工業CT系統

產品名稱: 安賽斯FF35 CT多用途高分辨工業CT系統

產品型號：FF35 CT

應用行業: 汽車制造, 微電子, 航空航天, 科研開發, 鑄造, 半導體, 增材制造

缺陷尺寸: <1µm 缺陷, <50µm 缺陷, <1mm 缺陷, >1mm 缺陷

樣品尺寸: 小型, 中型, 大型

運行模式: 3D, 2D/3D, 計量

FF35 CT 亮點

• 單或雙射線管配置，可最大限度提高實驗室微焦點CT應用多功能性

• 只需輕觸一個按鈕，即可在數秒內在 225 kV Micro-focus管和190 kV Nano-focus管之間自如切換

• 花崗巖底座操控和溫控，確保精確的結果

• 通過Geminy軟件平臺進行各種CT軌跡和視場 (FoV) 擴展，應用靈活

• 可選計量版本，測量精度可達 MPE_SD = 5.9 µm + L/75 [L in mm]

• 提供符合半導體市場標準的 FF35 CT SEMI 版本

• 新產品！最大樣品重量可達 50 千克 - 也可提供升級服務

  
  

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可靈活檢測中小型零件

Analysis FF35 CT、FF35 CT Metrology和FF35 CT SEMI 涵蓋了非凡的應用范圍。豐富的功能涵蓋了研發部門的改良材料測試、過程控制和小批量檢驗的優化，以及各種科學應用。雙X射線管配置幫助高分辨率CT系統大幅擴展汽車、電子、航空和材料科學行業的質量保證和研究的應用空間。

成熟驗證技術: 225 kV 折射式微焦點射線管

225 kV Analysis 折射式微焦點射線管具有 320 W 高功率和水冷靶材，可在不到一分鐘的時間內完成快速 CT 掃描。2D 檢測時，射束管空間分辨率為 4 μm。可在單個檢測序列內自如切換折射式微焦點射線管和納焦點透射管，大幅擴展應用范圍。

額外選配: 190 kV 納焦點透射管

對于10 mm 或更小尺寸的零件，分辨率在亞微米范圍內的 190 kV 納焦點透射管是理想的解決方案，有助于高分辨率檢查各種樣本：雖然其水冷式放射管頭可實現快速溫度調節并具有焦點穩定性，但可通過四種模式基于功率進行相應的焦點尺寸適配調整。由于兩根射線管均自備發生器和高壓電纜，因此無需重新配置即可輕松切換。

各種軌跡最大限度提高靈活性

Geminy直觀的用戶界面上顯示的圖形符號和廣泛的自動化功能，操作簡便，不受操作員技能水平限制。同時，該軟件還隨附了豐富的功能，可靈活應對各類零件尺寸和檢查任務，包括 HeliExtend（螺旋CT掃描和重建方法）等CT軌跡、水平和垂直視場擴展、虛擬旋轉軸和標準QuickScan/QualityScan。

 FF35 CT可檢測哪些物體?

• 電子器件，包括SMD

• 涉及新材料或新制造方法的產品，如增材制造零件、纖維增強塑料

• 電池電芯和模組

• 注塑成型塑料

• 微系統 (MEMS, MOEMS)

• 醫療用品，例如插管

• 輕合金鑄件

• 地質、古生物和生物樣本

  
  

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FF35 CT 用于哪些應用?

• 質量保證、材料分析和研究

• 失效與結構分析

• 裝配檢查

• 小批量生產檢驗

• 過程控制

• 數字化

• 無損剖切

  
  

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FF35 CT SEMI: 專為半導體領域應用研發

Analysis FF35 CT SEMI X射線系統是一種創新的多功能高分辨率 CT 系統，用于研發和質量保證領域。這套系統專為半導體相關行業檢驗應用開發。FF35 CT SEMI 符合 SEMI® 的嚴苛標準（包括 SEMI® S2-0818 和 SEMI® S8-0218 危險和安全標準）并通過了相應的認證。

使用FF35 CT Metrology測量超精細內部結構

Analysis FF35 CT Metrology將CT尺寸控制（例如超精細內部結構測量）的精確度提升至全新維度。一次 CT 掃描近乎捕獲幾乎無限的測量點，不受測量評估結果影響。無縫缺陷分析和名義值-實際值比較，節省時間并減少產品抽樣校正循環相關的校正成本。FF35 CT Metrology符合VDI/VDE 2630 標準。

FF35 CT關鍵技術參數：

名稱: 高分辨率微焦點CT系統 FF35 CT

關鍵詞：FF35 CT，X射線檢測，微焦點X光機，無損檢測，射線檢測